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我所开发出原位微区无损元素分析新技术

浏览:5886内容来源:发布时间:2019-05-10

近日,我所信息与测试保障中心科研人员,利用微区X射线荧光能谱分析技术,开发建立起了原位微区元素分布组成(mapping)测试技术,能无损地分析固体待测样品的元素组成分布。该方法不仅可以分析单点10 μm的微小区域,还可以自动扫描长宽在100mm以上的较大面积样品的元素分布和组成。经过大量不同类型固体样品检测和数据处理方法的开发,有力提升了仪器共享平台在的微区元素分析方向的检测能力。

目前,我所信息与测试保障中心已通过该方法为国内二十多家科研单位提供分析测试服务,检测项目包括岩石样品不同矿脉的元素差异、树叶样品元素分布特征、古董样品无损面扫、微塑料样品差异鉴别、电子器件等工业产品部件成分测定等诸多领域。通过不同领域不同类型的样品方法开发、谱图解析、报告出图等全流程服务,实现了从原始样品到实验数据及图片结果的一站式反馈流程,获得了送样用户的一致好评。

有关固体样品无损原位微区元素分布组成测试技术服务,可进一步咨询我所信息与测试保障中心有关科研人员,联系方式:0592-2195908 ,林博士,或三所共享平台用户qq群: 156694851。

图1 实验组与对照组树叶中锰元素半定量信息及分布差异

图2 岩石样品中不同矿脉的锰、铁元素比例差异分布特征